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康耐德智能點(diǎn)膠AOI系統(tǒng)在電子制造領(lǐng)域的應(yīng)用廣泛,以下是詳細(xì)介紹:
芯片封裝
在芯片封裝過(guò)程中,康耐德智能點(diǎn)膠AOI系統(tǒng)可對(duì)膠點(diǎn)的位置、形狀、尺寸等進(jìn)行精確檢測(cè),確保芯片與基板之間的粘接質(zhì)量,防止虛粘、脫膠等問(wèn)題,從而保證芯片的穩(wěn)定性和可靠性。例如,可檢測(cè)芯片封裝中使用的銀膠、硅酮膠等點(diǎn)膠是否存在斷膠、溢膠、缺膠等缺陷,檢測(cè)精度可達(dá)微米級(jí)別。
元器件固定與連接
對(duì)于電子制造中各種元器件的固定和連接,該系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控點(diǎn)膠過(guò)程,確保點(diǎn)膠質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。比如在貼片電容、電阻等元件的固定中,可檢測(cè)點(diǎn)膠的偏移、膠量是否合適等情況,避免因點(diǎn)膠問(wèn)題導(dǎo)致元件虛焊或固定不牢。
顯示模組制造
在LCD、OLED等顯示模組的生產(chǎn)中,康耐德智能點(diǎn)膠AOI系統(tǒng)可用于側(cè)邊封膠、硅酮膠、面膠、背膠、銀漿、透明膠等點(diǎn)膠工藝的檢測(cè)。能夠檢測(cè)溢膠、斷膠、缺膠、膠厚膠長(zhǎng)、膠寬等缺陷,適應(yīng)不同形狀和尺寸的顯示模組,如曲面屏和柔性電子材料的點(diǎn)膠檢測(cè),其高速拍攝能力可達(dá)300mm/s,高精度檢測(cè)精度可達(dá)1um,缺陷識(shí)別率高達(dá)99%。
PCB板制造
在PCB板的生產(chǎn)中,該系統(tǒng)可用于檢測(cè)PCB板上的元件尺寸和位置,以及點(diǎn)膠的質(zhì)量,確保元件安裝正確,膠點(diǎn)符合要求。同時(shí),還可對(duì)PCB板上的微小焊點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè),確保焊點(diǎn)的質(zhì)量和可靠性。
半導(dǎo)體制造
康耐德智能點(diǎn)膠AOI系統(tǒng)可用于半導(dǎo)體制造中的芯片粘接、引線(xiàn)鍵合等工藝中的點(diǎn)膠檢測(cè),確保膠點(diǎn)的質(zhì)量和精度,提高半導(dǎo)體產(chǎn)品的性能和可靠性。
電子產(chǎn)品的防水防塵處理
在一些需要防水防塵的電子產(chǎn)品制造中,如手機(jī)、平板電腦等,該系統(tǒng)可對(duì)產(chǎn)品的點(diǎn)膠密封部位進(jìn)行檢測(cè),確保膠點(diǎn)的完整性、連續(xù)性和密封性,防止水分和灰塵進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部,影響產(chǎn)品性能和壽命。
精密電子元件制造
對(duì)于精密電子元件,如傳感器、電感、電容等,康耐德智能點(diǎn)膠AOI系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的點(diǎn)膠檢測(cè),確保膠點(diǎn)的位置和尺寸精確無(wú)誤,滿(mǎn)足精密元件的制造要求。
FPC點(diǎn)膠檢測(cè)
在FPC(柔性印刷電路板)的制造中,康耐德智能點(diǎn)膠AOI系統(tǒng)可用于FPC點(diǎn)膠的質(zhì)量檢測(cè),確保膠水的涂覆均勻性、位置準(zhǔn)確性等,防止FPC連接處脫離、進(jìn)入氣泡等問(wèn)題,保證FPC的質(zhì)量和性能。
藥品膠囊檢測(cè)視覺(jué)系統(tǒng)是制藥行業(yè)高速產(chǎn)線(xiàn)中確保包裝完整性與用藥安全的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。康耐德智能藥品膠囊視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)在膠囊的生產(chǎn)和包裝線(xiàn)上,有著非常廣泛和成熟的應(yīng)用??梢酝瓿啥喾N關(guān)鍵的檢測(cè)任務(wù)。
軟袋輸血包內(nèi)異物檢測(cè)視覺(jué)系統(tǒng)用于自動(dòng)檢測(cè)軟袋輸血包內(nèi)液中可能存在的各種微小異物(如玻璃碎屑、金屬顆粒、毛發(fā)、纖維、塑料碎屑等),確保輸血安全,杜絕因異物導(dǎo)致的醫(yī)療風(fēng)險(xiǎn)。
軟袋輸液條碼 OCR 視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng),能夠自動(dòng)定位、識(shí)別和驗(yàn)證軟袋輸液包裝上的條碼(包括一維碼和二維碼),并將識(shí)別結(jié)果(如藥品ID、批號(hào)、有效期等)輸出到數(shù)據(jù)庫(kù)或控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)流水線(xiàn)上的自動(dòng)質(zhì)檢、信息錄入和溯源管理。
光刻膠涂布是光刻工藝中的關(guān)鍵步驟,其質(zhì)量直接影響到后續(xù)曝光、顯影、蝕刻等工序的成敗,最終關(guān)系到芯片的性能和良率。微小甚至肉眼難以察覺(jué)的涂布缺陷都可能導(dǎo)致電路短路、斷路或性能偏差。因此,在涂布后及時(shí)、準(zhǔn)確地檢測(cè)出缺陷至關(guān)重要。
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